導(dǎo)熱系數(shù)和熱擴(kuò)散系數(shù)測(cè)定儀-激光閃光法

?一、設(shè)備介紹

激光閃光法是當(dāng)今測(cè)量材料熱擴(kuò)散系數(shù)（α）并進(jìn)而計(jì)算導(dǎo)熱系數(shù)（λ）最為*、應(yīng)用zui廣泛的技術(shù)之一。其核心優(yōu)勢(shì)在于測(cè)量速度快、溫度范圍極寬、材料適用性廣、非接觸以及樣品尺寸小。盡管在樣品制備、數(shù)據(jù)處理模型和λ的間接計(jì)算上有一定要求，但它已成為材料科學(xué)研究（新材料開發(fā)）、工業(yè)質(zhì)量控制（如電子散熱材料、航空航天熱障涂層、核材料、電池材料）中不可huo缺的熱物性測(cè)試工具。理解其原理、過程和優(yōu)缺點(diǎn)對(duì)于正確使用儀器和解讀數(shù)據(jù)至關(guān)重要。

二、關(guān)鍵性能參數(shù)

三、設(shè)備構(gòu)成與特點(diǎn)（綜合性）?

?脈沖激光器：?提供短時(shí)、高能量密度的光脈沖（常用 Nd 激光器）。波長需要匹配樣品或涂層的吸收特性。

?樣品室/爐體：?提供可控的溫度環(huán)境，內(nèi)置精確控溫和測(cè)溫裝置（如熱電偶）。

?樣品架：?精確定位樣品，確保激光均勻照射前表面，并與紅外探測(cè)器保持精確對(duì)齊。

?紅外探測(cè)器：?快速、靈敏地檢測(cè)樣品后表面溫度隨時(shí)間的變化（常用液氮冷卻的 InSb, MCT 探測(cè)器或其他快速響應(yīng)探測(cè)器）。

?數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)：?高速采集卡，準(zhǔn)確記錄激光脈沖信號(hào)和紅外探測(cè)器信號(hào)的時(shí)間序列。

?控制系統(tǒng)與軟件：?

控制激光器發(fā)射。

控制樣品室溫度。

采集和處理溫度數(shù)據(jù)。

應(yīng)用數(shù)學(xué)模型計(jì)算 α 和 λ。

存儲(chǔ)、顯示和分析結(jié)果。

?光學(xué)系統(tǒng)：?（可選/集成）用于引導(dǎo)、聚焦激光束到樣品前表面，或?qū)⒑蟊砻孑椛渚劢沟郊t外探測(cè)器上。

四、主流設(shè)備與創(chuàng)新趨勢(shì)

?技術(shù)升級(jí)方向?

?智能化?：臺(tái)式電腦、云端數(shù)據(jù)管理?。

五、合規(guī)性要求（核心標(biāo)準(zhǔn)）

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

?ASTM E1461 - 22，?HB 5484-2011，?YS/T 1257-2018，?JC/T 2370-2016，GBT 42919.4-2023，?ISO 18755:2005，?ISO 22007-4:2017，?GB/T 22588-2008，GB/T 10297，?GB/T 35965-2018，?GB/T 32065.4-2020

六、激光閃光法的局限性和注意事項(xiàng)

?樣品要求高：?需要制備平行、光滑、平整的薄片樣品。樣品厚度需要精確測(cè)量（是計(jì)算的關(guān)鍵參數(shù)）。

?透明/半透明材料處理：?前表面需涂覆吸收層，涂層本身的導(dǎo)熱性和厚度會(huì)對(duì)結(jié)果有影響，需要校正或選擇合適涂層。

?導(dǎo)熱系數(shù)λ的間接性：? λ 是通過 α, ρ, Cp 計(jì)算得來。ρ 和 Cp 的測(cè)量誤差會(huì)傳遞到 λ 的誤差中。Cp 通常需要由其他設(shè)備（如DSC）測(cè)量，或在相同設(shè)備上通過比較法（與已知熱性能的參考樣品對(duì)比）獲得。

?模型依賴性：?計(jì)算結(jié)果依賴于所采用的數(shù)據(jù)處理模型。選擇和應(yīng)用合適的修正模型對(duì)精度至關(guān)重要。

?徑向熱損失：?對(duì)于低熱擴(kuò)散材料或長時(shí)間測(cè)量，樣品邊緣的熱損失不可忽略，需要在模型中修正。

?薄層/薄膜測(cè)量挑戰(zhàn)：?測(cè)量非常薄的樣品（<100μm）對(duì)激光脈沖寬度、探測(cè)器響應(yīng)速度和樣品制備精度要求非常高。

七、配置清單

主機(jī)1臺(tái)；

測(cè)試軟件1套；

說明書1份;

合格證1份;

保修卡1份;

簽收單1份;

銘牌1塊;

電源線1根;

扳手1套;

宣傳冊(cè)若干;

恒溫槽1臺(tái)

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